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| ㆍ작성일 |
2002-11-21 |
| ㆍ첨부#1 |
 049칩부품의유무검출.gif
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| ㆍ첨부#2 |
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| ㆍ개념 | 반도체, 전자부품 |
| ㆍ응용분야 | 전기전자, 기계 |
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ㆍ추천: 0 ㆍ조회: 808  
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칩 부품의 유무 검출
화이버센서에 렌즈 유니트를 끼워서 Φ0.5mm의 스포트광을 실현.
화이버유니트 E32-D32
렌즈 유니트 E39-F3A
자료출처 : 한국 오므론
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글 제 목 |
응용분야 |
작성일 |
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 콘덴서의 종류 판별
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전기전자, 기계
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금속 케이스내의 부품 유무 검지
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전기전자, 기계
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커넥터 핀의 검출
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커넥터 간격 검사 (엣지계측)
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전기전자, 기계
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전자 부품 리드선의 불량 판별
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전기전자, 기계
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스틱내의 IC 만배 검출(IC핸들러/DIP.SOP)
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전기전자, 기계
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리드 프레임의 벌어짐 검출
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IC다리 굽어짐과 빠짐 검출
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파츠피더에서의 부품 통과 · 체류 검지
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테이프 위의 칩 부품의 유무 검지(티핑기)
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칩 부품의 유무 검출
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